Microscopie électronique à balayage et microanalyses (notice n° 60272)
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000 -LEADER | |
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fixed length control field | 02736cam a2200289zu 4500 |
003 - CONTROL NUMBER IDENTIFIER | |
control field | FRCYB88803117 |
005 - DATE AND TIME OF LATEST TRANSACTION | |
control field | 20250107210006.0 |
008 - FIXED-LENGTH DATA ELEMENTS--GENERAL INFORMATION | |
fixed length control field | 250107s2008 fr | o|||||0|0|||fre d |
020 ## - INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER | |
International Standard Book Number | 9782759800827 |
035 ## - SYSTEM CONTROL NUMBER | |
System control number | FRCYB88803117 |
040 ## - CATALOGING SOURCE | |
Original cataloging agency | FR-PaCSA |
Language of cataloging | fr |
Transcribing agency | |
Description conventions | rda |
100 1# - MAIN ENTRY--PERSONAL NAME | |
Personal name | Brisset, François |
245 01 - TITLE STATEMENT | |
Title | Microscopie électronique à balayage et microanalyses |
Statement of responsibility, etc. | ['Brisset, François', 'GN-MEBA Groupe'] |
264 #1 - PRODUCTION, PUBLICATION, DISTRIBUTION, MANUFACTURE, AND COPYRIGHT NOTICE | |
Name of producer, publisher, distributor, manufacturer | EDP Sciences |
Date of production, publication, distribution, manufacture, or copyright notice | 2008 |
300 ## - PHYSICAL DESCRIPTION | |
Extent | p. |
336 ## - CONTENT TYPE | |
Content type code | txt |
Source | rdacontent |
337 ## - MEDIA TYPE | |
Media type code | c |
Source | rdamdedia |
338 ## - CARRIER TYPE | |
Carrier type code | c |
Source | rdacarrier |
520 ## - SUMMARY, ETC. | |
Summary, etc. | La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L’ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses. |
650 #0 - SUBJECT ADDED ENTRY--TOPICAL TERM | |
Topical term or geographic name entry element | |
700 0# - ADDED ENTRY--PERSONAL NAME | |
Personal name | Brisset, François |
700 0# - ADDED ENTRY--PERSONAL NAME | |
Personal name | GN-MEBA Groupe |
856 40 - ELECTRONIC LOCATION AND ACCESS | |
Access method | Cyberlibris |
Uniform Resource Identifier | <a href="https://international.scholarvox.com/netsen/book/88803117">https://international.scholarvox.com/netsen/book/88803117</a> |
Electronic format type | text/html |
Host name |
Pas d'exemplaire disponible.
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