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Bases et techniques avancées en traitement du signal Du capteur à la mesure ['Nayman, Patrick', 'De Laboulaye, Paul']

Par : Contributeur(s) : Type de matériel : TexteTexteÉditeur : Ellipses 2025Description : pType de contenu :
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ISBN :
  • 9782340098008
Sujet(s) :
Ressources en ligne : Abrégé : Cet ouvrage est un ensemble de traitement du signal et d’instrumentation basé sur l’expérience de l’auteur dans le domaine instrumental et l’enseignement. Il contient plusieurs exemples et programmes en MATLAB et veille à garder les démonstrations mathématiques concises.Cette seconde édition amendée propose une vue globale du traitement du signal du capteur à la mesure et sera utile aussi bien à l’étudiant qu’au chercheur ou à l’ingénieur.Il aborde notamment les sujets suivants :les séries de Fourier ;les transformées de Fourier, Laplace, Hilbert, en z ;propriétés des signaux aléatoires ;les filtrages linéaires et de Kalman et les propriétés spectrales ;l’échantillonnage et le sur-échantillonnage ;la modulation et la détection synchrone ;les systèmes numériques, la multi-résolution et les ondelettes ;le bruit et l’optimisation des performances (système et composants) ;l’optimisation des détecteurs et la CEM ;la problématique des mesures temporelles et l’optimisation du temps mort ;les photomultiplicateurs, les CCD, les APDC, les SiPM et les bolomètres ;le test des convertisseurs analogiques-numériques ;la prédiction et l’estimation spectrale.
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Cet ouvrage est un ensemble de traitement du signal et d’instrumentation basé sur l’expérience de l’auteur dans le domaine instrumental et l’enseignement. Il contient plusieurs exemples et programmes en MATLAB et veille à garder les démonstrations mathématiques concises.Cette seconde édition amendée propose une vue globale du traitement du signal du capteur à la mesure et sera utile aussi bien à l’étudiant qu’au chercheur ou à l’ingénieur.Il aborde notamment les sujets suivants :les séries de Fourier ;les transformées de Fourier, Laplace, Hilbert, en z ;propriétés des signaux aléatoires ;les filtrages linéaires et de Kalman et les propriétés spectrales ;l’échantillonnage et le sur-échantillonnage ;la modulation et la détection synchrone ;les systèmes numériques, la multi-résolution et les ondelettes ;le bruit et l’optimisation des performances (système et composants) ;l’optimisation des détecteurs et la CEM ;la problématique des mesures temporelles et l’optimisation du temps mort ;les photomultiplicateurs, les CCD, les APDC, les SiPM et les bolomètres ;le test des convertisseurs analogiques-numériques ;la prédiction et l’estimation spectrale.

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